Description
Date depot: 1 janvier 1900
Titre: Prévision des effets de vieillissement par électromigration dans les cellules standards et les systèmes sur puces CMOS
Directeur de thèse:
Habib MEHREZ (LIP6)
Domaine scientifique: Sciences et technologies de l'information et de la communication
Thématique CNRS : Non defini
Resumé:
L’électromigration (EMG) est l’une des conséquences de la course à la miniaturisation des composants électroniques en général et la réduction des dimensions des interconnexions en particulier. Il est identifié comme l’un des phénomènes critiques de fiabilité pour les circuits intégrés en technologies submicroniques. Les méthodes de vérification de ce phénomène utilisées durant la conception de circuits sont pour la plupart basées sur des règles de densité de courants et de température. Ces règles deviennent de plus en plus difficiles à mettre en place, compte tenue de l’augmentation des densités de courant dans les réseaux d’interconnexions. Les travaux de cette thèse s’inscrivent dans la dynamique de recherches de moyens d’amélioration de la détection des risques d’électromigration durant la phase de conception. Le but est d’établir une relation entre violations des règles électriques et la physique de dégradation des interconnexions. Les résultats obtenus au cours des tests de vieillissement nous ont permis de repousser les limites de courant sans altérer les durées de vie des circuits. Enfin, ce projet été l’occasion de définir des règles conception basé sur l’optimisation des cellules d’horloges dans la grille d’alimentation des circuits intégrés. L’application des solutions proposées au cours de ces travaux ont permis de réaliser des circuits robustes aux effets EMG.
Doctorant.e: Ouattara Boukary